PCB作為各種元器件的載體與電路信號傳輸?shù)臉屑~已經(jīng)成為電子信息產(chǎn)品的最為重要而關鍵的部分,其質量的好壞與可靠性水平?jīng)Q定了整機設備的質量與可靠性。
失效模式
爆板、分層、短路、起泡,焊接不良,腐蝕遷移等。
主要涉及的檢測項目
無損檢測 | 外觀檢查,X射線透視檢測,三維CT檢測,C-SAM檢測,紅外熱成像 |
表面元素分析 | 掃描電鏡及能譜分析(SEM/EDS)、顯微紅外分析(FTIR)、俄歇電子能譜分析(AES)、X射線光電子能譜分析(XPS)、二次離子質譜分析(TOF-SIMS) |
熱分析 | 差示掃描量熱法(DSC)、熱機械分析(TMA)、熱重分析(TGA)、動態(tài)熱機械分析(DMA)、導熱系數(shù)(穩(wěn)態(tài)熱流法、激光散射法) |
電性能測試 | 擊穿電壓、耐電壓、介電常數(shù)、電遷移 |
破壞性能測試 | 染色及滲透檢測 |
失效分析流程
(1)失效背景調查:產(chǎn)品失效現(xiàn)象?失效環(huán)境?失效階段(設計調試、中試、早期失效、中期失效等等)?失效比例?失效歷史數(shù)據(jù)?
(2)非破壞分析:X射線透視檢查、超聲掃描檢查、電性能測試、形貌檢查、局部成分分析等。
(3)破壞性分析:開封檢查、剖面分析、探針測試、聚焦離子束分析、熱性能測試、體成分測試、機械性能測試等。
(4)使用條件分析:結構分析、力學分析、熱學分析、環(huán)境條件、約束條件等綜合分析。
(5)模擬驗證實驗:根據(jù)分析所得失效機理設計模擬實驗,對失效機理進行驗證。
注:失效發(fā)生時的現(xiàn)場和樣品務必進行細致保護,避免力、熱、電等方面因素的二次傷害。
座 機:0755-23324072
郵 箱:anpu@anpucn.com
地 址:廣東省深圳市寶安區(qū)松崗街道寶安大道8728號2、3樓
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